transparent

< System testowy PCM akumulatora litowego do laptopa Nebula >

System testowy PCM akumulatora litowego do laptopa Nebula

Jest to zintegrowany system testowania PCM, odpowiedni do oceny podstawowych i ochronnych właściwości PCM w bateriach litowo-jonowych do laptopów.Służy głównie do pobierania parametrów, kalibracji i testowania funkcji ochronnych układów scalonych miernika gazu firmy Texas Instruments (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, BQ40320, BQ40Z55, BQ40Z50, BQ30Z55, BQ34Z100, BQ90251, BQ4, , BQ27742 i BQ27741).

 

CECHY

Kompatybilny z układami scalonymi miernika gazu z szerokim zakresem i wysoką dokładnością testowania

Charakteryzuje się niezależną, wielokanałową konstrukcją modułową ułatwiającą konserwację i wymianę, a także szereg funkcji raportowania danych.

Równoległe testowanie niezależnych kanałów w tym samym czasie, szybkie i oszczędzające zasoby ludzkie

SPECYFIKACJE

Model

BAT-NEZ-04-V006

Parametr

Zakres

Dokładność

Analogowe napięcie wyjściowe baterii

100~4800mV

±1mV

Prąd wyjściowy baterii analogowej

0~500mA

±1mA

Napięcie wyjściowe źródła prądu stałego

0~4000mV

/

Prąd wyjściowy źródła prądu stałego

20A ~ 30A

±20mA

3A ~ 20A

±10mA

20mA ~ 3000mA

±1mA

Pomiar napięcia wyjściowego baterii analogowej

100~4800mV

±1mV

Pomiar prądu wyjściowego baterii analogowej

0~500mA

±1mA

Pomiar stałego napięcia wyjściowego źródła prądu

0-4000mV

/

Pomiar prądu wyjściowego źródła prądu stałego

20A ~ 30A

±10mA

3A ~ 20A

5mA

20mA ~ 3000mA

±1mA

informacje kontaktowe

Wpisz tutaj swoją wiadomość i wyślij ją do nas